Dual baseline search for muon neutrino disappearance at 0.5eV2<Δm2<40eV2

  • K. B.M. Mahn
  • , Y. Nakajima
  • , A. A. Aguilar-Arevalo
  • , J. L. Alcaraz-Aunion
  • , C. E. Anderson
  • , A. O. Bazarko
  • , S. J. Brice
  • , B. C. Brown
  • , L. Bugel
  • , J. Cao
  • , J. Catala-Perez
  • , G. Cheng
  • , L. Coney
  • , J. M. Conrad
  • , D. C. Cox
  • , A. Curioni
  • , R. Dharmapalan
  • , Z. Djurcic
  • , U. Dore
  • , D. A. Finley
    • B. T. Fleming, R. Ford, A. J. Franke, F. G. Garcia, G. T. Garvey, C. Giganti, J. J. Gomez-Cadenas, J. Grange, C. Green, J. A. Green, P. Guzowski, A. Hanson, T. L. Hart, E. Hawker, Y. Hayato, K. Hiraide, W. Huelsnitz, R. Imlay, R. A. Johnson, B. J.P. Jones, G. Jover-Manas, G. Karagiorgi, P. Kasper, T. Katori, Y. K. Kobayashi, T. Kobilarcik, I. Kourbanis, S. Koutsoliotas, H. Kubo, Y. Kurimoto, E. M. Laird, S. K. Linden, J. M. Link, Y. Liu, Y. Liu, W. C. Louis, P. F. Loverre, L. Ludovici, C. Mariani, W. Marsh, S. Masuike, K. Matsuoka, C. Mauger, V. T. McGary, G. McGregor, W. Metcalf, P. D. Meyers, F. Mills, G. B. Mills, G. Mitsuka, Y. Miyachi, S. Mizugashira, J. Monroe, C. D. Moore, J. Mousseau, T. Nakaya, R. Napora, R. H. Nelson, P. Nienaber, J. A. Nowak, D. Orme, B. Osmanov, M. Otani, S. Ouedraogo, R. B. Patterson, Z. Pavlovic, D. Perevalov, C. C. Polly, E. Prebys, J. L. Raaf, H. Ray, B. P. Roe, A. D. Russell, F. Sanchez, V. Sandberg, R. Schirato, D. Schmitz, M. H. Shaevitz, T. A. Shibata, F. C. Shoemaker, D. Smith, M. Soderberg, M. Sorel, P. Spentzouris, J. Spitz, I. Stancu, R. J. Stefanski, M. Sung, H. Takei, H. A. Tanaka, H. K. Tanaka, M. Tanaka, R. Tayloe, I. J. Taylor, R. J. Tesarek, M. Tzanov, Y. Uchida, R. Van De Water, J. J. Walding, M. O. Wascko, D. H. White, H. B. White, M. J. Wilking, M. Yokoyama, H. J. Yang, G. P. Zeller, E. D. Zimmerman

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

103 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Dual baseline search for muon neutrino disappearance at 0.5eV2<Δm2<40eV2'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering