An improved limit for Γee of X(3872) and Γee measurement of ψ(3686)

M. Ablikim, M. N. Achasov, X. C. Ai, O. Albayrak, M. Albrecht, D. J. Ambrose, A. Amoroso, F. F. An, Q. An, J. Z. Bai, R. Baldini Ferroli, Y. Ban, D. W. Bennett, J. V. Bennett, M. Bertani, D. Bettoni, J. M. Bian, F. Bianchi, E. Boger, O. BondarenkoI. Boyko, R. A. Briere, H. Cai, X. Cai, O. Cakir, A. Calcaterra, G. F. Cao, S. A. Cetin, J. F. Chang, G. Chelkov, G. Chen, H. S. Chen, H. Y. Chen, J. C. Chen, M. L. Chen, S. J. Chen, X. Chen, X. R. Chen, Y. B. Chen, H. P. Cheng, X. K. Chu, G. Cibinetto, D. Cronin-Hennessy, H. L. Dai, J. P. Dai, A. Dbeyssi, D. Dedovich, Z. Y. Deng, H. Muramatsu, R. Poling, BESIII Collaboration

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

10 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'An improved limit for Γee of X(3872) and Γee measurement of ψ(3686)'. Together they form a unique fingerprint.

Physics & Astronomy